PENENTUAN CACAT KRISTAL PADA KRISTAL TUNGGAL SILIKON YANG DITUMBUHKAN DENGAN METODE CZOCHRALSKI

Ainul Huri, NIM. 089110889 (1996) PENENTUAN CACAT KRISTAL PADA KRISTAL TUNGGAL SILIKON YANG DITUMBUHKAN DENGAN METODE CZOCHRALSKI. Skripsi thesis, Airlangga University.

[img]
Preview
Text (ABSTRAK)
KKC KK MPF 566_96 Hur p.pdf

Download (583kB) | Preview
Official URL: http://lib.unair.ac.id

Abstract

Pengamatan karakteristik fisika dari suatu kristal dapat dilakukan dengan mengamati struktur dari kristal, yaitu dengan mengamati cacat kristal. Pengamatan cacat kristal dapat dilakukan dengan beberapa cara, salah satu di antaranya adalah dengan metode Etch Pits.

Item Type: Thesis (Skripsi)
Additional Information: KKC KK MPF 566/96 Hur p
Subjects: Q Science > QC Physics > QC1-999 Physics
Divisions: 08. Fakultas Sains dan Teknologi > Fisika
Creators:
CreatorsNIM/NIDN
Ainul Huri, NIM. 089110889UNSPECIFIED
Contributors:
ContributionNameNIDN/NIDK/NUP
ConsultantAchiar Oemry, Dr.UNSPECIFIED
Depositing User: Sulistiorini
Date Deposited: 08 Aug 2017 16:36
Last Modified: 08 Aug 2017 16:36
URI: http://repository.unair.ac.id/id/eprint/60045
Sosial Share:

Actions (login required)

View Item View Item