ADI SUCIPTO, 089110869
(1998)
PENGUKURAN KOEFISIEN MUAI PANJANG DENGAN METODE INTERFEROMETER MICHELSON.
Skripsi thesis, Universitas Airlangga.
Abstract
Penelitian ini bertujuan untuk mengukur koefisien muw panjang suatu logam, dengan melekatkan logam sampel Y8D.8 dipanaskan pada salah satu cennin blterferometerr Michelton. Penelitian ini didasarkan atas 8ejaJa interterensi dua cahaya mOllokromatik. Pola interferensi yang berbentuk frillji melingkar akon m0ugahuni perubahan dengan adanya. pergeseran logam akibat pemuaian. Koefisien muai panjang suafu logam dikt>tahui dengan mengamati pembaban jumlah frinji interf0ronsi pads bJterferometer Michelson.
Hasil ek~pE!rimeo memmjukkan bahwa modifikasi Interferometer Michelflon dapa' di~lunsklul luttllk meollf'lItukulI kUt.\fiHil.'lI lUmu PW~ilulA.dlul Ull'lIIb"'rikwI hstii I vml,~ lebih teliti dari peralatan konvensiooaJ. Dari h8Bil eksperimen besamya koefisien muai ponjang logam Kuningan 1,6.10·sI'C dan mempunyai filktor kesaJahan 0,17%, Ahunillilun 1,7. lO'~fc dan mempWlyai kesalahan 0,1 %. Temba.ga 1.3.1()"~I'C d~ng8n faldor kesalahan 0,1 %. Sedangkan dengan peralatan konvensional Iugam kuningan
1.58.10 5I'C dt'ngan faktor kesaJahWl 4,.5 %. logam aluminium 1.67.10'sI'C de-ligan fnkt.or kesaJahan 4,1 %, logam tembaga 1.26.1O·5jlC dengan faktor kesalahan 4,9 %.
Actions (login required)
 |
View Item |
